Accedi
Campi nascosti
Libri
La mia raccolta
Guida
Ricerca Libri avanzata
Acquista ebook - 76,00 USD
Trova questo libro nella versione stampata
AMS Bookstore
Hoepli.it
iBS
Libreriauniversitaria.it
Amazon IT
la Feltrinelli.it
Trovalo in una biblioteca
Tutti i venditori
»
Statistical Analysis of Measurement Error Models and Applications ...
a cura di Philip J. Brown, Wayne A. Fuller, American Mathematical Society
Informazioni su questo libro
Termini di servizio
Pagine visualizzate per concessione di
American Mathematical Soc.
.
Copyright
.
Copertina anteriore